KIFFE ENGINEERING GmbH
Am Krebsgraben 18
D | 78048 VS-Villingen


Im Umfeld industrieller Schleif, Läpp und Polierprozesse gehören LAM PLAN, JUNG, BLOHM und ZIERSCH zu den maßgeblichen Referenzen am Markt. Unter dem Gesichtspunkt Lamplan Jung Blohm Ziersch bewerten wir diese Hersteller deshalb kontinuierlich im Hinblick auf Leistungsfähigkeit, Präzision und Eignung für unseren Maschinenpark.
LAM PLAN, JUNG, BLOHM und ZIERSCH gehören zu den etablierten Anbietern im Bereich Schleifen, Läppen und Polieren. Sie arbeiten mit klarem Fokus auf Präzision und industrielle Serienfertigung. LAM PLAN liefert komplette Läpplösungen und Poliertechnik. Dazu gehören Maschinen und abgestimmte Verbrauchsmaterialien für Ebenheiten unter einem Mikrometer. Weitere Informationen zu den Produkten finden sich auf der LAM PLAN Website.
JUNG und BLOHM sind innerhalb der UNITED GRINDING Group auf Flach und Profilschleifen spezialisiert. Ihre Maschinen werden weltweit dort eingesetzt, wo hohe Produktivität, Oberflächengüte und Profiltreue gefordert sind. ZIERSCH ergänzt dieses Umfeld mit einem breiten Portfolio an Flach, Profil, Portal, Rundtisch und Rundschleifmaschinen. Diese Anlagen sind für Genauigkeiten bis in den einstelligen µm Bereich ausgelegt. Informationen zu JUNG und BLOHM finden sich auf den Seiten von JUNG und BLOHM, zu ZIERSCH auf der ZIERSCH Website.
Aus Sicht der Oberflächenfeinstbearbeitung bieten diese Hersteller unterschiedliche Schwerpunkte. Diese reichen von klassischem Läppen und Polieren über hochproduktives Flach und Profilschleifen bis zur Großteileverarbeitung. Genau diese Bandbreite macht Lamplan Jung Blohm Ziersch für uns strategisch interessant, weil sich damit viele Anwendungsfelder abdecken lassen. Daher stehen alle vier Hersteller aktuell unter intensiver Beobachtung. Ziel ist es, unser eigenes Portfolio und unseren Maschinenpark perspektivisch um ausgewählte Lösungen dieser Anbieter zu erweitern. Voraussetzung ist, dass sie unsere Anforderungen an Ebenheit, Planparallelität, Automatisierbarkeit und prozesssichere µm Genauigkeit sinnvoll ergänzen.
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